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簡要描述:毛細管 x射線鍍層測厚儀毛細管 X 射線測試鍍層儀器是一款高精度分析設備。它借助毛細管聚焦 X 射線,能精準聚焦于鍍層微小區(qū)域。該儀器具備高分辨率,可清晰分辨鍍層不同層次結構,準確測定鍍層厚度、成分及元素分布等關鍵參數(shù)。其操作便捷,對樣品損傷小,能快速獲取可靠數(shù)據(jù),廣泛應用于電鍍、材料科學等領域,助力鍍層質量把控與工藝優(yōu)化 。
詳細介紹
毛細管 x射線鍍層測厚儀
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測,最多鍍層檢測可達 5 層;鍍層測量精度 0.001μm;
2. 開槽式設計,超大可移動全自動樣品平臺 480*480mm (長*寬)(可定制),樣品
移動距離 350*250mm ;最大樣品高度:140mm
3. 激光定位和自動多點測量功能;
4. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;
5. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結 果(3-30 秒);
6. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
7. 軟件升級;
8. 無損檢測,一次性購買標樣可使用;
9. 使用安心無憂,售后服務響應時間 24H 以內,提供保姆式服務;
10. 可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
11. 采用超導多毛細管方案,最小光斑可以達到 15μm ,光強提高 100 倍以上
(二)產(chǎn)品特征
1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048 通道逐次近似計算法 ADC(模擬數(shù)字轉換器)
Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基 礎參數(shù)計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析
3. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度
4. 勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1 吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2 線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS 等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等] 三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass 等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等] 合金鍍層應 [如:Sn-Pb/Cu]
5. Multi-Ray. WINDOWS10 軟件操作系統(tǒng)
6. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
7. 自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。最大測量點數(shù) 量 = 每 9999 每個階段文件。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特 殊工具如"線掃描"和"格柵" 。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦
功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
四、產(chǎn)品配置及技術指標說明
X 射線光管:50KV ,1mA 鉬鈀
檢測系統(tǒng):FAST SDD 探測器
檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)
應用程序語言:韓/英/中
平臺尺寸:480*480mm(長*寬) | 測量原理:能量色散X射線分析
能量分辨率:130eV 焦斑直徑:15~35μm 分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光 樣品移動距離:350*250mm |
1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,使用壽命(工作時間>10,000 小時) 微焦點 x 射線管鉬鈀
焦斑直徑:15~35μm
2. 探測器:70mm2探測器面積FAST SDD探測器 能量分辨率:130eV
3. 平臺:軟件程序控制伺服電機驅動 X-Y 軸移動大樣品平臺。
4. 激光定位、簡易荷載最大負載量為 5 公斤
5. 軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
6. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
7. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
8 .視頻系統(tǒng):高分辨率 CCD 攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 放大倍數(shù):80~240X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
9. 檢測厚度(正常指標):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 – 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 – 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 – 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 – 500 微英寸
10. 計算機、打印機
1)含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
2)含Windows10軟件
3)Multi-Ray鍍層分析軟件
iEDX-150μWT 型號光譜儀軟件功能
1) 軟件應用
- 單鍍層測量
- 線性層測量,如:薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度
- 三鍍層測量。
- 吸收模式的應用 DIN50987. 1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應用 DIN50987. 1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應用領域的測量
2) 軟件標定
- 自動標定曲線進行多層分析
- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法
- 使用標樣進行多點重復標定
- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調整功能
3) 軟件校正功能:
- 基點校正(基線本底校正)
- 多材料基點校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等
- 密度校正
4) 軟件測量功能:
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設定(光管電流,濾光片,ROI)
5) 自動測量功能(軟件平臺)
- 同模式重復功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))
- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉校正功能
- TSP 應用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 (KLM 標記方法)
- 每個能量/通道元素 ROI 光標
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能(強度、能量)
7) 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值、 標準偏差、 最大值。
- 最小值、測量范圍,N 編號、 Cp 、 Cpk,
- 獨立曲線顯示測量結果。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調整
- 儀器使用單根 USB 數(shù)據(jù)總線與外設連接
- Multi-Ray 自動輸出檢測報告(HTML ,Excel)
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護。
9) 儀器維修和調整功能
- 自動校準功能;
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;
- 自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率,迭代法取決于峰位置、 CPS 、主 X 射線強度、輸入電壓、操作環(huán)境。
毛細管 x射線鍍層測厚儀
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